美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）于4月13日發(fā)布了《2010自動化測試前景報告》，就創(chuàng)新技術(shù)對當今測試測量應(yīng)用的影響發(fā)表了研究結(jié)果。報告涵蓋了通信、國防航空、半導(dǎo)體、汽車和消費電子等眾多產(chǎn)業(yè)，力圖幫助工程師和管理者了解自動化測試領(lǐng)域的最新發(fā)展趨勢及其影響。

      NI通過與眾多涉及不同領(lǐng)域的公司進行交流，對技術(shù)發(fā)展趨勢進行了廣泛的研究，從獨特的視角觀察測試測量市場?！?010自動化測試前景報告》結(jié)合了學術(shù)研究、商業(yè)咨詢、用戶調(diào)查、在線論壇、客戶反饋和區(qū)域銷售代表討論的結(jié)果。以此數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，該報告闡述了未來測試測量趨勢以及如何應(yīng)對測試測量行業(yè)所面臨的市場挑戰(zhàn)與技術(shù)挑戰(zhàn)。

      《2010自動化測試前景報告》從五個角度出發(fā)進行闡述：這五個角度分別是商業(yè)策略、構(gòu)架、計算、軟件和硬件I/O。報告在每一類中詳細闡述了影響測試測量行業(yè)的發(fā)展趨勢、方法或技術(shù)。報告談?wù)摿艘韵挛鍌€主題：

? 標準化：開發(fā)通用的平臺，降低成本，在產(chǎn)品的整個生命周期中可重復(fù)利用測試系統(tǒng)
? 多通道RF測試：測試下一代無線設(shè)備需要一個從信號層面到軟件層面的并行測試架構(gòu)
? Peer-to-Peer計算：越來越復(fù)雜的測試要求需要更高的性能和點對點計算構(gòu)架
? 嵌入式設(shè)計與測試：通過實時測試軟件，工程師可以在測試階段復(fù)用他們在產(chǎn)品開發(fā)過程中建立的嵌入式系統(tǒng)模型
? 可重配置的儀器：基于FPGA的儀器通過引入硬件級的自定義特性，進一步提高了性能和靈活性

敬請訪問www.ni.com/ato，查看《2010 自動化測試前景報告》。報告中文版將于近期推出，敬請關(guān)注。

此外，第七屆PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇將于今年5月28日在深圳召開，欲了解更多自動化測試相關(guān)信息，可登陸http://www.epc.com.cn/pxitac2010/進行報名。