2005年國際計量自動化測試技術(shù)研討會 (2005-03-14)
發(fā)布時間:2007-12-04
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時 間:2005年6月28日-30日
地 點:上海新國際博覽中心(中國上海浦東龍陽路2345號)
主辦單位:中國計量測試學會(CSM)
現(xiàn)代計量科學技術(shù)產(chǎn)生了巨大變化,為了推動國內(nèi)外計量科技與服務(wù)的健康快速發(fā)展,中國計量測試學會將定于2005年6月28日-30日在中國上海舉辦大型的國際計量自動化測試技術(shù)研討會。會議同期,還將舉辦國際計量測試技術(shù)及設(shè)備展覽會。
主要議題 :
長度、熱學、力學、電磁學、無線電、時間頻率、光學、電磁輻射、物理化學、標準物質(zhì)等計量測試技術(shù);
現(xiàn)代最新測量技術(shù):電磁兼容測試、納米測試技術(shù)、軟件測量等;
流量計量與測試;
實驗室計量分析方法、質(zhì)量檢驗技術(shù)和化學計量;
工業(yè)自動化測試及控制技術(shù)。
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