近日，由中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)與我院共同完成的“掃描探針顯微鏡漂移測量方法與標(biāo)準(zhǔn)化”課題，榮獲2014年中國分析測試協(xié)會科學(xué)技術(shù)獎（CAIA獎）。

      CAIA獎是分析測試領(lǐng)域唯一的社會力量設(shè)獎，獲獎成果反映了國內(nèi)分析測試領(lǐng)域的最高水平，對加強分析測試領(lǐng)域和相關(guān)學(xué)科的基礎(chǔ)性和應(yīng)用性研究、提升我國分析測試與科研探索的創(chuàng)新能力和學(xué)術(shù)水平做出了重要貢獻(xiàn)。

      “掃描探針顯微鏡漂移測量方法與標(biāo)準(zhǔn)化”研究定義了描述SPM在X、Y和Z方向的漂移速率的專業(yè)術(shù)語，規(guī)定了SPM漂移速率的測量方法和測量程序，不僅為基于SPM測量圖像的漂移速率提供了標(biāo)準(zhǔn)的評價方法，也對其它納米級測量儀器穩(wěn)定性的評價也有著重要參考價值。