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深圳市計量質(zhì)量檢測研究院舉辦電子產(chǎn)品可靠性測試研討會 (2006-05-17)

發(fā)布時間:2007-12-04 作者: 來源: 瀏覽:1071
4月26日至27日,深圳市計量質(zhì)量檢測研究院聯(lián)合美國QUANTA測試公司舉辦了“電子產(chǎn)品可靠性測試”研討會,來自微軟亞洲、富士康、華為、中興、TCL、邁瑞等知名企業(yè)的100多名電子電器行業(yè)企業(yè)代表參加了研討會。 研討會邀請了美國QUANTA測試公司總裁、可靠性測試方面的權(quán)威劉杭生博士作為主講,劉博士針就環(huán)境測試的制定標(biāo)準(zhǔn)、環(huán)境測試的收益、內(nèi)部測試實驗室的優(yōu)缺點及降低費用的方法、可靠性測試方法等內(nèi)容做了詳盡的講解。會上,專家作了現(xiàn)場解答疑,并與企業(yè)代表進(jìn)行良好的互動溝通,現(xiàn)場氣氛十分熱烈。參會代表紛紛表示,舉辦這樣的研討會意義重大,不僅為企業(yè)提供一些改進(jìn)質(zhì)量的方法,提升企業(yè)質(zhì)量管理水平,也為電子行業(yè)創(chuàng)造一個交流新資訊的平臺,希望能夠多舉辦一些類似的活動。
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